產(chǎn)品中心
- 計(jì)量級工業(yè)CT
- - VersaXRM 730 - VersaXRM 615 - Xradia 515 Versa - ZEISS Metrotom - Metrotom 1500 - ZEISS VoluMax
- 三坐標(biāo)測量機(jī)
- - ZEISS Spectrum - ZEISS DuraMax - ZEISS Contura - ZEISS PRISMO - ZEISS MICURA - ZEISS MMZ T - ZEISS MMZ G - ZEISS CALENO - ZEISS CAPTUM - ZEISS Xenos
- 3D掃描測量系統(tǒng)
- - 激光跟蹤測量儀 - GOM Scan 1 - T-SCAN hawk 2 - ATOS Q - Vantage Max - ATOS 5 - ScanBox - ATOS LRX - ScanBoxSeries 5 - 關(guān)節(jié)掃描測量臂
- 齒輪測量中心
- - 齒輪測量中心 - 雙齒面嚙合儀
- 形狀輪廓測量機(jī)
- - 一體式粗糙輪廓儀 - 粗糙度輪廓儀 - 輪廓測量儀 - 粗糙度測量儀 - 圓柱度/圓度測量儀
- 光學(xué)測量機(jī)
- - 光學(xué)測量機(jī) - 一鍵式快速測量儀 - 二次元影像測量儀 - 軸光學(xué)測量機(jī) - 光學(xué)刀具測量儀
- 掃描電子顯微鏡
- - 鎢燈絲掃描電鏡 - 場發(fā)射掃描電鏡 - 分析掃描電鏡 - 多束掃描電鏡 - 桌上掃描電鏡
- 顯微測定解決方案
- - 超景深3D顯微鏡 - 共聚焦顯微鏡 - 金相顯微鏡 - 顯微納米壓痕測定儀
- X射線檢測方案
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- 清潔度檢測方案
- - SZM 71體式清潔度檢測系統(tǒng) - 清潔度檢測系統(tǒng)(高配型) - 清潔度檢測系統(tǒng)(高倍型) - 清潔度檢測系統(tǒng)(低倍型) - 清潔度顆粒萃取(全自動(dòng)型) - 清潔度顆粒萃取(半自動(dòng)型) - 清潔度顆粒萃取(雙工位型) - 清潔度升級改造 - 清潔度實(shí)驗(yàn)室規(guī)劃
鎢燈絲掃描電鏡
蔡司 EVO 掃描電鏡






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蔡司EVO 10
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蔡司EVO 15
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選擇EVO 10(可選配BSD和EDS)
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EVO 15增加了對不導(dǎo)電樣品或零件的成像和分析的可變壓力模式
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最大樣品高度
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100 mm
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145 mm
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最大樣品直徑
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230 mm
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250 mm
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電動(dòng)載物臺行程XYZ
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80 x 100 x 35 mm
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125 x 125 x 50 mm
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高真空模式 (HV)
導(dǎo)電樣品質(zhì)量的成像與分析 |
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可變壓力模式 (VP)
不導(dǎo)電且不噴涂導(dǎo)電層樣品的高質(zhì)量成像和分析
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擴(kuò)展壓力模式 (EP)
含水或被污染的樣品在其自然狀態(tài)下成像 |
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