上海拓精工業測定儀器有限公司
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X射線鍍層測厚儀 XDLM
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM X射線鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設計，是用于質量控制，質量檢驗和生產監控的*合適的測量儀器。
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據不同的預期用途，有不同的版本。
XDLM 231 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統。
XDLM 232 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統。
XDLM 237 型則配備了馬達驅動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統。
XDLM系列儀器帶有4個可切換準直器，3種可切換的基本濾片，采用比例接收器，測量距離為0-80mm。
使用高分辨率的CCD彩色攝像頭
儀器重量100kg-120kg
儀器使用時溫度范圍10℃-40℃，空氣相對濕度為≤95%，無結露
